近日，泛半導體缺陷檢測創新型企業創銳光譜宣布完成近億元PreA輪融資，由光速光合領投，老股東君聯資本跟投，指數資本擔任獨家財務顧問。融資資金將主要用于技術研發和產能擴容。

    創銳光譜成立于2016年，是全球領先的瞬態光譜技術產業化企業，立足瞬態光譜技術，建立了從基礎科學研究到泛半導體檢測領域的全系列產品。歷經多年的技術積累與深度耕耘，創銳光譜在光譜學系統、激光器、OPO、探測器、自動化等關鍵技術和核心組件及軟件與運動控制算法等方面均實現自研。

    創銳的科研產品線包括超快瞬態吸收光譜系統、超快瞬態吸收顯微成像、納秒瞬態吸收光譜系統、閃光光解系統等，其產品成功打破歐美等巨頭壟斷，目前已進入國內外近百所高校和研究機構，超快光譜系統實現國內市占率第一；在化合物半導體檢測產品領域，創銳光譜構建了從襯底到外延的一站式檢測方案；在泛半導體其他領域，已實現鈣鈦礦光伏面板、第二代半導體晶圓、芯片和MicroLED等多個不同場景檢測技術和設備的落地，不斷拓寬市場和技術的邊界。

    創銳光譜CEO陳俞忠博士表示，近一年來創銳光譜在SiC晶圓缺陷檢測方面取得了巨大的技術突破，成功開發了襯底/外延位錯缺陷無損檢測、點缺陷檢測、高速載流子壽命檢測等多種專用設備，在全球范圍內首次解決了SiC襯底位錯缺陷無損檢測的世界性難題，該突破性技術也不斷得到行業認可，相關DiSpec系列檢測設備已實現全球首套落地，并同步發運國際和國內頭部客戶。

    本輪融資后，創銳光譜將持續加大研發投入力度，加速推進SiC晶圓缺陷檢測、鈣鈦礦光伏面板檢測等多種工業檢測產品的市場導入， 實現批量出貨目標。

    “一代材料，一代工藝，一代檢測”是半導體產業歷來的發展邏輯，新檢測技術是推動新材料和新工藝落地的關鍵利器。然而，在化合物半導體加速發展的大趨勢下，同時具備高效率、低成本，且能覆蓋晶格結構和化學等多種缺陷的檢測方式，尚屬空白狀態：主流前道檢測技術中，光學檢測（AOI、CIM、明暗場等）可以實現宏觀物理缺陷的快速、無損檢測，但對微觀晶格缺陷沒有檢測能力；常規譜學檢測（XRD、非線性光學、XRT等）的檢測速度有限，且成本較高、操作復雜。

    瞬態光譜技術與其他類型檢測有著本質區別，通過Pump光源使被測物體進入激發態，在材料的動態過程和分布上表征多種結構和化學缺陷信息，從而實現泛半導體材料關鍵缺陷檢測的革命性突破。

    當前，SiC材料已進入降本增效、“拼質量”階段，瞬態光譜技術填補了關鍵缺陷檢測技術的空白，為SiC晶圓生產帶來巨大價值。同時，該技術可實現無損、高速率、極高準確性，這將推動整條產業鏈實現SiC襯底“片片檢”。此外，其底層技術能夠復用于科研場景、GaN外延檢測、鈣鈦礦電池檢測等場景，可觸達市場空間超過百億。

    創銳光譜CEO陳俞忠博士表示，指數資本關注半導體設備行業多年，對各類細分的檢測設備做過深入研究，能夠從資本市場的角度，既快又準地梳理出創銳光譜的行業生態位。他們制作的交易材料專業、精準、亮點突出，對融資進度的把控經驗十足，本輪融資在效率和結果上都大大超出預期。

    指數資本副總裁蔡鵬程認為，新型檢測技術是推進新型材料和工藝技術落地的關鍵抓手。創銳團隊在瞬態光譜技術領域沉淀20年，包含激光器在內的多種核心部件均自主研發，稀缺性極強。2024年是創銳在泛半導體領域實現大規模突破的元年，我們欣喜地看到，創銳在海內外頭部客戶實現突破，作為創銳光譜的獨家財務顧問，我們很高興能陪伴公司順利完成本輪的融資，未來我們也將繼續陪伴創銳持續成長！

    光速光合執行董事郭斌表示，創銳光譜集結了中科院、浙江大學、埃默里大學等多家世界頂級學府及科研院所的專家團隊，深耕工業界極為稀缺的瞬態光譜檢測技術。公司以科研市場為依托，開創性地開發出具有生產指導價值的新型高端檢測設備，同時突破現有光學檢測手段的能力邊界，有效延伸到碳化硅功率器件、鈣鈦礦光伏組件、MicroLED顯示面板等高端制造領域，顯著促進了幾大新興領域的商業化進程。尤其在碳化硅領域，已成功向國內外龍頭企業交付了全球范圍內首臺套該類型的高端檢測設備，樹立了行業標桿。此外，經過多年技術積淀，公司成功實現在激光器、探測器等關鍵零部件完全自主化生產，打破了國外巨頭的供應鏈壟斷，構建了極深的行業護城河。

    君聯資本創銳光譜項目負責人施立成表示，當前，SiC材料已進入降本增效、“拼質量”階段，創銳光譜團隊利用多年積累的瞬態光譜技術填補了SiC關鍵缺陷檢測的空白，為SiC晶圓生產帶來巨大價值。同時，該技術可實現無損、高速率、極高準確性，這將推動整條產業鏈實現SiC襯底“片片檢”。此外，其底層技術能夠復用于科研場景、GaN外延檢測、鈣鈦礦電池檢測等場景，可觸達市場空間超過百億。